品名：电解式膜厚计

型号：CT-2

厂商：日本电测株式会社

特性：

1．可作各种镀层（多层、合金、多层镍）的精密测量

2．除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状

3．可测量0.01～300 um的镀层

4．可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层

5．可对测量数据进行统计处理，以及和主机进行共同管理

6．可制作非破坏式膜厚仪的标准板。

7．可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。

8．由微处理器来进行计算、储存、思考。

9．本膜厚仪彩和全对话式操作。因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量情况，非常简单。

10．由于可储存64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。每个测量条件可储存999个数据。

11．我可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理。例如：测量条件、平均值、*大值、*小值、上下限值、直方圆均可计算并可由打印机印出，制作测量报告很容易。

12．每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择，均可由微处理器自动判断、设定。

13．标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。

14．测量数据可由通讯网络来传输，所以能和主机共同进行数据管理。

15．由于分解速度差跑分得很细，因此可缩短测量时间。

16．可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。

17．有表面活性的功能，所以表面处理很容易。我们独特的测量台（**）是利用条形弹簧方式，因此操作非常容易。